可视化4.2K多场耦合测试系统 MTS-LT

可视化4.2K多场耦合测试系统 MTS-LT

该设备为研发的第二代可视化4.2K多场耦合测试系统，该设备主要由极低/变温控制子系统、背景强磁场子系统、强电流加载控制子系统、机械力学加载控制子系统、非接触多场环境下的宏/微观变形测量子系统五个子系统组成。其中极低/变温控制子系统采用GM制冷机进行低温冷却，实现无液氦制冷，并通过传导冷方式对杜瓦内的试样机磁体进行降温。

产品参数：

产品优势：

•可视化杜瓦，可实现室温~4.2K变温环境下光学测试根据测试

•背景强磁场子系统能够提供高达3T的背景强磁场

•强电流加载控制子系统采用大功率超导电源对测试样品进行电流加载，最大可实现1000A的测试电流

•该测量系统不与极低温试样及超导磁体接触，不受强磁场、大电流及极低温的影响和干扰，能够高精度的测量待测试样的三维或二维的全场测量